隨著科技的發(fā)展，手機(jī)更新?lián)Q代的非?？?，手機(jī)做為人們?nèi)粘Ｉ畈豢扇鄙俚耐ㄐ殴ぞ?，在向市場上大量出售前，需要做整機(jī)可靠性測試，以全方位保障手機(jī)的品質(zhì)與人們的使用安全。那么手機(jī)整機(jī)可靠性測試需要做哪些項目呢？下面劍喬儀器小編為大家仔細(xì)講解下手機(jī)整機(jī)可靠性測試的試驗項目以及相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)。

一：手機(jī)整機(jī)環(huán)境可靠性測試

由于手機(jī)是移動設(shè)備，這就決定了它隨時會面臨冬天的嚴(yán)寒與靜電，夏季的酷暑與潮濕，而高低溫環(huán)境測試就是為了避免手機(jī)產(chǎn)生嚴(yán)重失效現(xiàn)象而進(jìn)行的測試。最為容易想象的就是高低溫環(huán)境測試，它會給予手機(jī)一個初始測試狀態(tài)如待機(jī)、關(guān)機(jī)或者充電，定時檢查手機(jī)在測試中的狀況。

1）高低溫環(huán)境測試

高低溫試驗是高溫試驗和低溫試驗的的簡稱，試驗?zāi)康氖窃u價高低溫條件對裝備在存儲和工作期間的性能影響。高低溫試驗的試驗條件、試驗實施、試驗步驟在GJB 150.3A一2009《軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法高溫試驗》與GJB 150.4A—2009《軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法低溫試驗》中都有詳細(xì)的規(guī)定。

2）鹽霧測試

鹽霧箱條件： 5+1％NaCl溶液， 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°C,濕熱箱條件：＋40+2°，93+3％RH，持續(xù)時間48H。

3）ESD測試

手機(jī)在接充電器和不接充電器的情況下，分別測試手機(jī)在常用使用狀態(tài)下的ESD 性能，待機(jī)和通話狀態(tài)是必須要測試的狀態(tài)。 

接觸放電為±6KV,對裸露的金屬件（如導(dǎo)電裝飾圈、裝飾牌不同的位置）、水平耦合板、垂直耦合板連續(xù)放電各 10次后對地放電,要求：LCD 顯示和通話狀況應(yīng)良好，應(yīng)無數(shù)據(jù)丟失和功能損壞等；接觸放電每點每個測試電壓連續(xù)放電 10次(加嚴(yán)測試±20 次)。 

空氣放電±10K，對翻蓋底殼/面殼、大小LCD四周、接縫、受話器、免提接口、I/O口、主機(jī)按鍵及主機(jī)底殼等處進(jìn)行放電，被選點每點每個測試電壓放電10 次(加嚴(yán)測試±20 次)，每放電一次需對地放電，要求LCD顯示和通話狀況應(yīng)良好，應(yīng)無數(shù)據(jù)丟失和功能損壞。 

完成后作好記錄。所需手機(jī)數(shù)為2 部。 

外置天線 ESD 測試要求：天線電鍍裝飾要求測試接觸放電±8KV，空氣放電±15KV，不允許出現(xiàn)破壞性問題（出現(xiàn)重啟或重裝電池不可恢復(fù)的問題） 

參考標(biāo)準(zhǔn): 

GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2  1995 電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗  

YD/T 1539-2006移動通信手持機(jī)可靠性技術(shù)要求和測試方法。

4）極限溫度充電測試

5）溫升測試

二、手機(jī)整機(jī)機(jī)械類可靠性測試

這類測試大多數(shù)屬于破壞性的測試，我們可以理解成測試產(chǎn)品的一個極限狀態(tài)。簡單的說就是看看產(chǎn)品的可靠度，比如10厘米的微跌測試，對手機(jī)的正面和反面各微跌200次，手機(jī)LCD不能出現(xiàn)白點或者白斑，TP滑動功能全領(lǐng)域有效，如果測試通過我們認(rèn)為該產(chǎn)品在這方面具備可靠度。

1）跌落測試

分定向跌落、自由跌落、重復(fù)跌落、滾筒跌落四種跌落方式。

試驗樣機(jī)插SIM 卡，并裝配電池，手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。將樣品放置在垂直跌落試驗儀上，將高度調(diào)到 1.0m ，進(jìn)行垂直跌落測試。每個面各測 2 次，共跌落12 次。跌落測試后，首先對樣品進(jìn)行外觀、功能，結(jié)構(gòu)檢測，記錄測試狀態(tài)后，再進(jìn)行拆機(jī)檢測。

試驗樣機(jī)插SIM 卡，并裝配電池，手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。 將樣品放置在 0.5m 的滾筒跌落試驗機(jī)中，進(jìn)行跌落測試，每 50 次對手機(jī)的外觀，功能，結(jié)構(gòu)做檢測，累計跌落300 次循環(huán)。 測試完成后，對手機(jī)進(jìn)行功能，結(jié)構(gòu)，裝配檢測（要求必須拆機(jī)檢查）。

2）軟壓測試

將手機(jī)正面朝上，放置在支撐部件的中心位置上，樣品處于開機(jī)狀態(tài)并鎖住鍵盤。彈性擠壓頭以 25kg 的力、每分鐘 15～30 次的頻率擠壓樣品中間部位1000次，分別在400、600、800、1000 次進(jìn)行外觀檢查和話音通信檢查，外觀、功能應(yīng)正常，話音通信應(yīng)能正常進(jìn)行。測試結(jié)束后進(jìn)行功能、外觀及裝配檢測應(yīng)無異常。

3）硬壓測試

4）小球沖擊

5）水波紋測試

6）USB/耳機(jī)接口推力測試

7）正弦振動測試

    振動頻率: 10 ~ 500Hz ASD(加速度頻譜密度)：0.96m2/S3 持續(xù)時間: 每方向1小時(x,y,z三個方向)。 試驗過程中檢查手機(jī)有無掉卡、關(guān)機(jī)等不良現(xiàn)象，測試結(jié)束后功能檢查應(yīng)無異常。

8）沙塵實驗

9）包裝振動

三、手機(jī)整機(jī)壽命類測試

    實際研制過程中，壽命測試一般為加速壽命測試，以便縮短測試周期，降低生產(chǎn)成本，讓產(chǎn)品在短時間內(nèi)盡可能暴露產(chǎn)品的缺陷，評估產(chǎn)品的穩(wěn)定性。

1）SIM/T卡/內(nèi)存卡接入和拔出測試

    插入SIM 卡再取出，累計1000 次。每插拔50 次開機(jī)檢查一次，手機(jī)不能有不識卡現(xiàn)象，測試完畢手機(jī)功能應(yīng)正常。

    插入內(nèi)存卡再取出，累計 1000 次。不支持熱插拔的機(jī)型，每插拔 100 次開機(jī)檢查一次，支持熱插拔的機(jī)型必須在開機(jī)狀態(tài)下測試，每插拔 100 次檢查一次，要求測試后存儲卡結(jié)構(gòu)正常（不能破裂），手機(jī)無不識卡問題，內(nèi)存卡中的內(nèi)容不可丟失。

2）USBUSB/耳機(jī)接口接入和拔出測試

    將耳機(jī)垂直插入耳機(jī)孔后，再垂直拔出，如此反復(fù)，累計 3000 次。功能應(yīng)正常。

插入數(shù)據(jù)線再拔下，累計3000次。每插拔100次開機(jī)檢查一次，手機(jī)功能應(yīng)正常。

3）按鍵測試

    以 40~60 次/分鐘的速度，不小于 10N 的力度均勻按鍵，Dome：15 萬次以上；Switch：10 萬次；多維導(dǎo)航鍵：6 萬次。每2萬次檢查1次。Slide：1.5 萬次；試驗后功能應(yīng)正常。

4）觸摸屏點擊測試

    將手機(jī)固定在點擊測試儀器上， 用固定在尖端的隨機(jī)手寫筆，加載 150g 的力，對觸摸屏點擊25 萬次， 每5 萬次對屏幕進(jìn)行檢查并清潔；手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)；測試完畢后，觸摸屏表面無損傷，功能正常。點擊速率：約1 次/秒

5）觸摸屏劃線測試

    將手機(jī)固定在劃線測試儀器上， 用手機(jī)自帶的手寫筆沿觸摸屏的對角線進(jìn)行劃線測試，劃線壓力為150g 力， 測試次數(shù)10 萬次 （反復(fù)來回為 2 次），每1 萬次對觸摸屏功能、結(jié)構(gòu)和外觀進(jìn)行檢測，并對觸摸屏進(jìn)行清潔。測試結(jié)束后，觸摸屏功能應(yīng)正常，外觀無損傷（劃痕）。 （劃線速度：約30mm/秒）

6）聽筒壽命測試

    使用0.035W， PINK  20Hz-20KHz的120小時內(nèi)無異常現(xiàn)象。

7）馬達(dá)測試

8）揚聲器測試

9）受話器測試

四、手機(jī)整機(jī)表面處理類測試

1）紙帶/羊毛氈耐磨測試

    使用多功能耐磨儀器，羊毛氈，施加 1000g 的力，在產(chǎn)品表面（有表面處理工藝）以 40 次/分鐘～60 次/分鐘的速度，以 30mm 左右的行程，在樣本表面來回磨擦，測試 2000 次(1000 個循環(huán))后 觀察外觀。

2）硬度測試

    觸摸屏硬度測試，用三菱牌 2H 鉛筆劃產(chǎn)品表面，在 45°的角度，以 500g的力度在被測殼表面劃兩筆劃刻后用橡皮擦試后檢查應(yīng)無明顯劃痕。

3）噴涂百格測試

4）耐醇性測試

5）化妝品測試

6）耐壓測試

7）振動耐磨測試。

五、手機(jī)整機(jī)三防測試

    區(qū)別于傳統(tǒng)的三防“防霉菌、防潮濕、防鹽霧”，手機(jī)整機(jī)的三防測試主要為防塵、防水、防跌落震動測試。

    如防塵可靠性測試，將手機(jī)放置在粉塵試驗箱內(nèi)， 樣品體積綜合不得超過試驗箱有效空間的 1/3，底面積不得超過有效水平在積的 1/2；與實驗箱內(nèi)壁距離應(yīng)不小于 100mm。啟動粉塵試驗箱，使氣流能夠?qū)⒒覊m均勻緩慢地沉降在試驗樣品上，最大值不得超過 2m/s。測試時間到后，將手機(jī)在粉塵箱內(nèi)靜置 2H，進(jìn)行功能、外觀及裝配檢測。

六、 國內(nèi)手機(jī)可靠性測試方面的主要標(biāo)準(zhǔn)

1）GB/T 15844.2-1995 移動通信調(diào)頻無線電話機(jī)環(huán)境要求和試驗方法。 

2）YD/T1215  900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動一動通信網(wǎng)通用分組無限業(yè)務(wù)設(shè)備測試方法：移動臺。

3）GB/T 15844.3-1995 移動通信調(diào)頻無線電話機(jī)可靠性要求和試驗方法。 

4）YD/T 965-1998  電信終端設(shè)備的安全要求和試驗方法。 

5）YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數(shù)字900/1800MHz TDMA 數(shù)字蜂窩移動通信系統(tǒng)電磁兼容性限值和測量方法  第一部分：移動臺及其輔助設(shè)備。

對手機(jī)整機(jī)進(jìn)行可靠性測試，需要對測試過程的失效現(xiàn)象進(jìn)行分析，因此在測試過程中應(yīng)把手機(jī)的失效現(xiàn)象準(zhǔn)確詳細(xì)的描述出來十分重要，從而才能便于后續(xù)分析、改進(jìn)設(shè)計，為提高手機(jī)可靠性、耐久性。更多詳細(xì)資料歡迎咨詢廣東劍喬【劍喬儀器】廠家 官網(wǎng)：www.93ttt.cn